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1、《現(xiàn)代測試技術(shù)》課程簡介
課程編號
124014XX
課程名稱
現(xiàn)代測試技術(shù)
課程性質(zhì)
限選
學(xué) 時
32
學(xué) 分 2
學(xué)時分配
授課:26 實驗:6 上機(jī): 實踐: 實踐(周):
考核方式
閉卷考試,平時成績占30% ,期末成績占70% o
開課學(xué)院
商學(xué)院
更新時間
XX年9月
適用專業(yè)
寶石材料與工藝學(xué)
先修課程
無
課程內(nèi)容:
《現(xiàn)代測試技術(shù)》是寶石專業(yè)的任選課程。課程內(nèi)容主要包括X射線衍射、掃描電鏡、 電子探針、透射電鏡、紅外光譜、拉曼光譜等幾種現(xiàn)代測試技術(shù)的原理、樣品的制備技術(shù)、 圖譜解析的方法,重點闡述現(xiàn)代測試技術(shù)在材料領(lǐng)域中的應(yīng)
2、用。隨著寶石合成及優(yōu)化技術(shù)的 進(jìn)步,天然寶石與合成寶石之間的差別越來越小,寶石鑒定的難度變得越來越大,在這種情 況下,許多現(xiàn)代測試技術(shù)被引入到寶石鑒定與材料測試的領(lǐng)域中來,課程中將結(jié)合寶玉石的 測試分析數(shù)據(jù),將理論與實際應(yīng)用結(jié)合起來。通過課程的學(xué)習(xí),學(xué)生能夠掌握目前最常用的 測試技術(shù)方法,為今后進(jìn)行相關(guān)的寶石鑒定和材料測試分析工作打下良好的基礎(chǔ)。
Brief Introduction
Code
124014XX Title
Modern Testing Technology
Course nature
Limited optional
Semester Hours 32 Cred
3、its 2
Semester Hour Structure
Lecture: 26 Experiment: 6 Computer Lab: Practice:
Practice (Week):
Assessment
Closed book examination, usually results accounted for 30%, the final grade accounted for 70%.
Offered by
Business School Date XX-9
for
Gemmology and Materials Technology
Prerequisit
4、e
None
Course Description:
This course is an optional course for gemology students. In this course, the theory, the technology of sample making and the analytical way on the collection of illustrative plates about some modern testing technology, such as XRD, SEM, EPMA, TEM, IR, Roman and so on,
5、 are expatiated. And the course focuses on modern testing technology and its application in the field of materials. With the progress of gem's synthetic and optimization technology, the difference between the raw gem and the synthetic gem becomes less and less. It becomes more and more difficult to
6、differentiate them. Under these circumstances, many modern testing instruments have been introduced to gems identification field. This course will combine the theory and practical application by combining testing and analysis data of gems. The mission of this course is to master the most common test
7、ing technology by far and to have a good foundation on gem identification and materal testing.
《現(xiàn)代測試技術(shù)》課程教學(xué)大綱
課程編號
124014XX
課程名稱
現(xiàn)代測試技術(shù)
課程性質(zhì)
任選
學(xué) 時
32
學(xué) 分 2
學(xué)時分配
授課:26 實驗:6 上機(jī): 實踐: 實踐(周):
考核方式
閉卷考試,平時成須占30% ,期末成紙占70% o
開課學(xué)院
商學(xué)院
更新時間
XX年9月
適用專業(yè)
寶石材料與工藝學(xué)
先修課程
無
一、教學(xué)內(nèi)容
第一章X射線衍
8、射分析
1.1 X射線的物理基礎(chǔ)
1.2 X射線衍射原理
1.3 X射線衍射的方法
1.4 X射線衍射的應(yīng)用
教學(xué)難點:X射線衍射原理、X射線衍射方法
教學(xué)重點:X射線衍射的應(yīng)用
第二章電子顯微分析基礎(chǔ)
2.1電子顯微分析概述
2.2電子光學(xué)
2.3電子與固體物質(zhì)的相互作用
教學(xué)難點:電磁透鏡的性質(zhì)
教學(xué)重點:電磁透鏡的性質(zhì)、電子與固體物質(zhì)的相互作用
第三章透射電子顯微分析
3.1透射電鏡的原理、結(jié)構(gòu)與性能
3.2電子衍射
3.3試樣制備
3.4透射電子顯微成像原理
教學(xué)難點:選取電子衍射、透射電鏡的成像原理
教學(xué)重點:透射電鏡的成像原理
第四章 掃描電
9、子顯微分析
4.1掃描電鏡的原理、結(jié)構(gòu)與性能
4.2掃描電鏡的樣品制備
4.3掃描電鏡的成像原理
教學(xué)難點:掃描電鏡的成像原理
教學(xué)重點:掃描電鏡的成像原理
第五章電子探針
5.1電子探針的原理與結(jié)構(gòu)
5.2波譜儀與能譜儀
5.3電子探針分析樣品制備
5.4電子探針分析方法
教學(xué)難點:電子探針的原理、波譜儀與能譜儀
教學(xué)重點:電子探針的分析方法
第六章紅外光譜
6.1光譜分析概述
6.2紅外光譜的基本原理
6.3紅外光譜儀
6.4紅外光譜的樣品制備
6.5紅外光譜的分析方法
教學(xué)難點:紅外光譜的原理、紅外光譜的分析方法
教學(xué)重點:紅外光譜的分析方法
第
10、七章拉曼光譜分析
7.1拉曼散射的基本原理
7.2拉曼光譜分析
7.3拉曼光譜儀
7.4拉曼光譜的應(yīng)用
教學(xué)難點:拉曼散射和瑞利散射拉曼光譜分析原理
教學(xué)重點:拉曼光譜分析的原理、拉曼光譜的應(yīng)用
二、 教學(xué)要求
第一章X射線衍射分析
教學(xué)要求:了解X射線的基本性質(zhì);掌握X射線衍射的原理;了解X射線衍射的方法; 掌握X射線衍射在材料學(xué)中的應(yīng)用。
第二章電子顯微分析基礎(chǔ)
教學(xué)要求:了解電子顯微分析的基礎(chǔ)知識;掌握電磁透鏡的性質(zhì);掌握電子與固體物質(zhì) 的相互作用后產(chǎn)生的有用物理信號。
第三章透射電子顯微分析
教學(xué)要求:熟悉透射電鏡的原理、結(jié)構(gòu)與性能;掌握電子衍射的原理與方法;
11、了解透射 電子顯微分析的樣品制備方法;掌握透射電子顯微成像原理。
第四章 掃描電子顯微分析
教學(xué)要求:了解掃描電鏡的原理、結(jié)構(gòu)與性能;熟悉掃描電鏡的樣品制備方法;掌握掃 描電鏡的成像原理與分析方法。
第五章電子探針
教學(xué)要求:了解電子探針的原理與結(jié)構(gòu);熟悉波譜儀與能譜儀的結(jié)構(gòu)與原理;熟悉電子 探針分析的樣品制備方法;掌握電子探針分析方法和應(yīng)用。
第六章紅外光譜
教學(xué)要求:了解光譜分析的基本知識;了解紅外光譜的性質(zhì);掌握紅外光譜的基本原理; 熟悉紅外光譜儀的結(jié)構(gòu)與原理;熟悉紅外光譜的樣品制備方法;掌握紅外光譜的分析方法。
第七章拉曼光譜分析
教學(xué)要求:了解拉曼散射的基本原理;掌握
12、拉曼光譜分析的方法;熟悉拉曼光譜儀的結(jié) 構(gòu)與原理;了解拉曼光譜的應(yīng)用。
三、 章節(jié)學(xué)時分配
章次
總課時
課堂講授
實驗
上機(jī)
實踐
備注
1
8
4
2
2
3
4
4
2
5
3
6
5
2
7
2
總計
32
26
6
四、教材與主要參考資料
教材
[1]常鐵軍、祁欣.材料近代分析測試方法.哈爾濱:哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社,2003.
參考資料
[1]彭明生.寶石優(yōu)化處理與現(xiàn)代測試技術(shù).北京:科學(xué)出版社,1995.
審核:
批準(zhǔn):