《數(shù)字系統(tǒng)測試技術》PPT課件

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1、電 子 測 量 原 理 第 1頁 第 11章 數(shù) 字 系 統(tǒng) 測 試 技 術11.1 數(shù) 字 系 統(tǒng) 測 試 的 基 本 原 理11.2 邏 輯 分 析 儀11.3 可 測 性 設 計11.4 數(shù) 據(jù) 域 測 試 的 應 用 電 子 測 量 原 理 第 2頁 的 特 點 電 子 測 量 原 理 第 3頁 電 子 測 量 原 理 第 4頁 電 子 測 量 原 理 第 5頁 電 子 測 量 原 理 第 6頁 電 子 測 量 原 理 第 7頁 電 子 測 量 原 理 第 8頁 （ 1） 固 定 型 故 障 （ Stuck Faults ） （ 2） 橋 接 故 障 （ Bridge Faults ）

2、 x1x2x3 x3x2 x1 x1 x1x2x2 x3 x3 電 子 測 量 原 理 第 9頁 （ 2） 橋 接 故 障 （ Bridge Faults ） F x1.xsxs+1.x n Y p1 ps x1xs . Y xnxs+1 .（ 3） 延 遲 故 障 （ Delay Faults ） 電 子 測 量 原 理 第 10頁 （ 4） 暫 態(tài) 故 障 （ Temporary Faults ） ： 電 子 測 量 原 理 第 11頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 電 子 測 量 原 理 第 12頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 通 路 （ Path） 和 敏 化 通 路 (Se

3、nsitized Path)（ 1） 敏 化 通 路 法 ABx1x 2x 3 ab c de f g yC a f y 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0 1 0故 障 a f g:故 障 傳 播 或 前 向 跟 蹤電 路 的 敏 化 過 程 電 子 測 量 原 理 第 13頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 x1x 2x 3 ab c de f g y x2:s-a-0 有 扇 出 電 路 的 敏 化 過 程 電 子 測 量 原 理 第 14頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法x 1x 2x 3 單 通 路 敏 化 成 功 ， 雙 通 路 敏 化 失 敗 的 例 子 （ 111） 不

4、 是 x2： s-a-0的 測 試 矢 量 （ 110） 和 （ 011） 是 x2： s-a-0的 測 試 矢 量 電 子 測 量 原 理 第 15頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 x1x2x 3x4 G55G 66G 77 G88G99 G1010G 1111 G1212 ys-a-0同 時 沿 G6G9G12 和 G6G10G12 敏 化 方 可 成 功G6（ s-a-0） 的 測 試 :(x1x2x3x4)=(0000) 電 子 測 量 原 理 第 16頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法扇 出 對 敏 化 通 路 的 影 響 ， 三 種 情 況 ： 單 通 路 和 多 通 路 都

5、 產(chǎn) 生 測 試 矢 量 僅 單 通 路 能 產(chǎn) 生 測 試 矢 量 僅 多 通 路 能 產(chǎn) 生 測 試 矢 量 小 結 Schneider反 例 說 明 一 維 敏 化 不 是 一 種 算 法 對 一 特 定 故 障 尋 找 敏 化 通 路 時 ， 還 應 考 慮 同 時 敏 化 多 個 單 通 路 的 可 能 組 合 -多 維 敏 化 對 于 多 維 敏 化 ， 必 須 尋 球 一 種 真 正 的 算 法 - D算 法 電 子 測 量 原 理 第 17頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法（ 2） D算 法D ： 正 常 電 路 邏 輯 值 為 1， 故 障 電 路 為 0的 信 號D ：

6、正 常 電 路 邏 輯 值 為 0， 故 障 電 路 為 1的 信 號 簡 化 表 又 稱 電 路 的 原 始 立 方 -簡 化 的 真 值 表 形 成 ： 邏 輯 門 用 它 的 輸 出 頂 點 名 稱 表 示 門 輸 出 頂 點 的 標 號 大 于 所 有 輸 入 頂 點 的 標 號 電 子 測 量 原 理 第 18頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 基 本 門 電 路 的 簡 化 表 12 3 1 2 31 11 10 0 0 12 3 1 2 31 1 10 00 0 電 子 測 量 原 理 第 19頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 基 本 門 電 路 的 簡 化 表 12 3

7、1 2 31 01 00 0 1 12 3 1 2 31 1 00 10 1 電 子 測 量 原 理 第 20頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 電 路 的 簡 化 表 舉 例 123 45 6 456 1 2 3 4 5 61 1 10 00 01 1 10 00 0 0 01 1 1 1GGG 電 子 測 量 原 理 第 21頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 傳 遞 D立 方把 元 件 E輸 入 端 的 若 干 故 障 信 號 能 傳 播 至 E的 輸 出 端的 最 小 輸 入 條 件 傳 遞 D立 方 構 造 傳 遞 D立 方 的 Roth交 運 算 規(guī) 則 Roth交 0 101

8、 0 0 11 10D D 電 子 測 量 原 理 第 22頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 基 本 門 電 路 的 傳 遞 D立 方 傳 遞 D立 方 12 3 1 2 300D DD D 12 3 1 2 311D DD D 電 子 測 量 原 理 第 23頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 基 本 門 電 路 的 傳 遞 D立 方 傳 遞 D立 方 12 3 1 2 300D DD D 12 3 1 2 311D DD D 電 子 測 量 原 理 第 24頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 故 障 的 原 始 D立 方-元 件 E的 輸 出 處 可 產(chǎn) 生 故 障 信 號 D或

9、D的 最 小 輸 入 條 件 12 3 12 31 2 31 1 D 1 2 30 0 D區(qū) 別 ： 故 障 原 始 D立 方 實 為 激 活 故 障 的 條 件 故 障 傳 遞 D立 方 為 傳 播 故 障 信 號 的 條 件 電 子 測 量 原 理 第 25頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 D交 運 算 規(guī) 則 D交 0 101 00 11 10 D D DD DD D D 電 子 測 量 原 理 第 26頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 D交 運 算 規(guī) 則 符 號 和 分 別 表 示 D交 為 空 和 未 定 義 如 果 不 出 現(xiàn) 和 ， 但 出 現(xiàn) 和 ， 則 D交 未 定

10、 義 如 果 D交 中 只 出 現(xiàn) 而 不 出 現(xiàn) ， 則 在 第 二 個 因子 中 ， 所 有 的 D變 為 D， D變 為 D如 果 D交 中 只 出 現(xiàn) 而 不 出 現(xiàn) ， 則 D D=D，D D=D 電 子 測 量 原 理 第 27頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 D交 運 算 規(guī) 則 將 D激 活 元 件 的 傳 遞 D立 方 同 測 試 立 方 作 D交 運 算 ，使 元 件 輸 出 D或 D信 號若 D交 存 在 ， 本 次 驅 趕 成 功 ， 得 到 新 的 測 試 立 方 。若 D交 結 果 為 空 ， 則 選 擇 另 一 個 傳 遞 D立 方 進 行 如 果 該 元 件

11、 的 傳 遞 D立 方 都 被 選 擇 而 D交 結 果 為 空 ，則 從 活 躍 矢 量 中 另 選 一 元 件 進 行 D驅 趕 電 子 測 量 原 理 第 28頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 D交 運 算 規(guī) 則 若 活 躍 矢 量 中 所 有 元 件 都 不 能 實 現(xiàn) D交 ， 則 后 退 到前 一 活 躍 矢 量 ， 甚 至 退 到 最 初 階 段 另 選 一 個 故 障原 始 D立 方 重 新 進 行 重 復 上 述 過 程 ， 直 至 將 D或 D驅 趕 到 某 主 輸 出 為 止 電 子 測 量 原 理 第 29頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 線 確 認 和 一

12、致 性 檢 查 電 子 測 量 原 理 第 30頁 敏 化 通 路 法 和 D算 法 D算 法 求 解 組 合 電 路 的 測 試 矢 量 的 步 驟 第 一 步 ， 初 始 化 。 包 括 ： 寫 出 被 測 電 路 的 簡 化 表 ； 由 簡 化 表 得 到 傳 遞 D立 方第 二 步 ， D驅 趕 。 用 Roth D交 運 算 完 成 多 路 敏 化第 三 步 ， 進 行 一 致 性 檢 查第 四 步 ， 形 成 確 定 的 測 試 矢 量第 五 步 ， 對 故 障 集 形 成 完 備 測 試 集 最 后 ， 建 立 故 障 字 典 電 子 測 量 原 理 第 31頁 布 爾 差 分

13、法對 布 爾 函 數(shù) f(x)=f(x1,x2,xn) ),0,()0( ),1,()1( ),()( ),()( 1121 1121 21 21 niii niii nii nii xxxxxff xxxxxff xxxxfxf xxxxfxf 電 子 測 量 原 理 第 32頁 布 爾 差 分 法 對 一 邏 輯 函 數(shù) f(X)， xi X, X=(x1,x2,xn)， 用符 號 fi( )表 示 xi= ( 0,1)時 f(X)的 值 ， 則 ( ) (1) (0)i i i if X x f x f 有 一 個 組 合 邏 輯 系 統(tǒng) ： f(x)=f(x1,x2,xi,xn),如

14、果 布 爾 表 達 式 ( ) ( ) 1 i iy f x f x 成 立 則 表 明 系 統(tǒng) 內(nèi) 部 任 何 一 個 節(jié) 點 xi（ 或 主 輸 入 ）上 信 號 的 邏 輯 值 的 變 化 能 使 輸 出 端 y的 邏 輯 值 作 相 應的 變 化 ， 從 而 可 根 據(jù) y的 變 化 來 測 試 出 xi的 變 化 ， 以達 到 對 xi故 障 測 試 的 目 的 電 子 測 量 原 理 第 33頁 布 爾 差 分 法定 義 為 函 數(shù) f相 對 于 變 量 xi的 一 階 布 爾 差 分 ( ) ( ) ( )i iidf x f x f xdx ( ) idf xdx 的 含 義

15、： xi從 xi變 成 xi時 ， f(xi)與 f（ xi）之 間 的 差 異 量 電 子 測 量 原 理 第 34頁 布 爾 差 分 法 偵 查 故 障 xi=s-a-1和 故 障 xi:s-a-0的 測 試 矢 量 集 分 別 用 T1和 T0表 示 ） 為 1)( 1)( 01 ii ii dxxdfxT dxxdfxT ( ) ( ) ( )(1) (0)i ii i idf x f x f xdx f f 電 子 測 量 原 理 第 35頁 布 爾 差 分 法如 果 h是 邏 輯 變 量 X的 函 數(shù) ， 而 f又 是 變 量 h和 X的 函 數(shù) ，則 測 試 故 障 h： s-a

16、-1和 h： s-a-0的 測 試 矢 量 集 分 別 為 1),( 1),(01 dhXhdfhT dhXhdfhT 電 子 測 量 原 理 第 36頁 布 爾 差 分 法舉 例 ： 求 偵 查 下 圖 中 故 障 x1:s-a-1， x1:s-a-0， h:s-a-1的測 試 矢 量 集 x1x2x 3x4 h f解 ： 寫 出 f的 邏 輯 表 達 式 )( )( 43221 43221 43221 43243221 xxxhhxx xxxxx xxxxx xxxxxxxxf 電 子 測 量 原 理 第 37頁 布 爾 差 分 法求 f相 對 變 量 x1的 一 階 布 爾 差 分 2

17、4324321 4321 432 43221 )()( )0( )1(x xxxxxxdxdf xxxf xxx xxxxf 所 以偵 查 故 障 x1:s-a-1和 x1:s-a-0的 測 試 矢 量 集 分 別 為 1 1 1 1 2 11dfT x dxx x 0 1 11 2 11dfT x dxx x 電 子 測 量 原 理 第 38頁 布 爾 差 分 法T1=（ 0100， 0101， 0110， 0111）T0=（ 1100， 1101， 1110， 1111） 因 為 fh(1)=x1x2， fh(0)=1所 以 1 2 1 21df x x x xdh 檢 測 故 障 h：

18、s-a-1的 測 試 矢 量 為 1 1)(1432 214321 xxx xxxxx dhdfhTh:s-a-1的 測 試 集 為 T1=（ 0000， 1000） 電 子 測 量 原 理 第 39頁 迭 接 陣 列 電 子 測 量 原 理 第 40頁 引 言時 序 邏 輯 電 路 的 測 試 比 組 合 電 路 困 難 時 序 電 路 中 存 在 反 饋 ， 對 電 路 的 模 擬 、 故 障 的 偵查 和 定 位 帶 來 困 難 時 序 電 路 中 ， t時 刻 的 輸 出 響 應 ， 既 取 決 于 t時刻 的 輸 入 ， 又 取 決 于 在 此 以 前 的 輸 入 ， 甚 至 可 能

19、與 從 初 始 狀 態(tài) 一 直 到 時 刻 t的 所 有 輸 入 都 有 關 系 時 序 電 路 的 存 貯 作 用 往 往 使 電 路 中 一 個 單 故 障相 當 于 組 合 電 路 中 的 多 故 障 ， 測 試 時 序 電 路 中一 個 故 障 不 再 是 單 個 簡 單 的 測 試 矢 量 ， 而 需 要一 定 長 度 的 輸 入 矢 量 序 列 電 子 測 量 原 理 第 41頁 引 言時 序 時 序 電 路 的 測 試 生 成 需 特 別 考 慮 既 要 處 理 邏 輯 相 關 性 又 要 處 理 時 序 相 關 性 需 要 特 別 處 理 諸 如 時 鐘 線 、 反 饋 線 、

20、 狀 態(tài)變 量 線 等 連 線 需 要 建 立 全 電 路 正 確 的 時 序 關 系 采 用 可 測 試 設 計 和 內(nèi) 建 自 測 試 技 術 可 顯 著 提 高 時 序 電 路 測 試 效 率 電 子 測 量 原 理 第 42頁 迭 接 陣 列 時 序 電 路 的 一 般 模 型 組 合 邏 輯 C(t)X(t) Z(t)Y(t)y(t) 存 儲 器 件 S時 鐘 CP 電 子 測 量 原 理 第 43頁 迭 接 陣 列 陣 列 單 元 模 型 形 成 ： 把 反 饋 線 斷 開 ， 把 某 時 刻 的 電 路 展 開 成 一 個 陣 列單 元 。 陣 列 單 元 的 輸 入 是 主 輸

21、 入 X(j)和 現(xiàn) 態(tài) y(j)， 輸出 是 主 輸 出 Z（ j） 和 次 態(tài) y（ j+1） ， 把 1， 2， ， k各時 刻 的 陣 列 單 元 串 接 起 來 ， 就 組 成 一 個 迭 接 陣 列 模 型 。 C(j) S X(j) Z(j) Y(j) y(j+1)y(j)缺 點 ： 對 大 型 時 序 電 路 ， 計 算 量 太 大 電 子 測 量 原 理 第 44頁 迭 接 陣 列 電 子 測 量 原 理 第 45頁 測 試 序 列 的 產(chǎn) 生 電 子 測 量 原 理 第 46頁 測 試 序 列 的 產(chǎn) 生（ 1） 同 步 序 列 電 子 測 量 原 理 第 47頁 測 試

22、序 列 的 產(chǎn) 生求 同 步 序 列 舉 例0 1 AB B/0A/1 C/1D/0B/1 A/0輸 入輸 出 C C/0 A/1D樹 根 開 始 到 標 記 “ 。 ” 的 輸 入 序 列 為 同 步 序 列 Hs 一 個 時 序 電 路 ， 可 能 不 存 在 同 步 序 列 ， 也 可 能 存 在多 個 同 步 序 列 (A B C D)(A B C)(ACD).(AB) (B) (AC) 0 10 1 10 (A C D)(ABC). (AD)(BC) (A)1 10 0 電 子 測 量 原 理 第 48頁 測 試 序 列 的 產(chǎn) 生（ 2） 引 導 序 列-將 時 序 電 路 從 一

23、 個 未 知 狀 態(tài) “ 引 導 ” 到 某 些 已 知末 態(tài) （ 可 根 據(jù) 不 同 的 響 應 序 列 來 判 定 末 態(tài) ） 的 輸 入 序列 從 狀 態(tài) 轉 換 圖 （ 表 ） 出 發(fā) ， 將 所 有 狀 態(tài) 作 為 樹 根 ， 次態(tài) 集 和 響 應 輸 出 記 錄 在 相 應 的 樹 枝 下 按 響 應 ， 將 次 態(tài) 集 分 割 成 次 態(tài) 子 集 ， 輸 出 相 同 的 次 態(tài) 在 同 一 個 子 集 中 ， 標 出 各 子 集 的 輸 出 值 若 每 個 次 態(tài) 子 集 中 的 元 素 均 相 同 ， 則 停 止 向 下 分 支 ，標 記 為 “ *” ， （ 若 每 個 次

24、態(tài) 子 集 中 僅 包 含 一 個 元 素 ，則 停 止 向 下 分 支 ， 并 標 記 為 “ 。 ” ） 其 它 情 況 ， 即 至 少 有 一 個 子 集 中 含 有 不 同 的 元 素 ，且 該 子 集 的 集 合 以 前 沒 有 出 現(xiàn) 過 ， 則 繼 續(xù) 向 下 分 支 電 子 測 量 原 理 第 49頁 測 試 序 列 的 產(chǎn) 生求 引 導 序 列 舉 例 A B CD 0/0 1/0 0/1 0/01/11/1 1/00/0 電 子 測 量 原 理 第 50頁 測 試 序 列 的 產(chǎn) 生引 導 樹（ A B C D） （ AAC） ， （ D）（ 000） ， （ 1）（ BB

25、） ， （ D） ， （ B） （ 00） ， （ 1） ， （ 1）*1（ AAC） ， （ D）（ 000） ， （ 1）0 （ BC） ， （ DB）（ 00） ， （ 11）(AC),(D),(A) (00),(1),(0) (C),(D),B),(C)(0),(1),(1),(0)(AC),(D),(A)(00),(1),(0) (B),(D),B),(B) (0),(1),(1),(0) 0 1 10 0 1. .引 導 序 列 ： 01， 11， 101 電 子 測 量 原 理 第 51頁 測 試 序 列 的 產(chǎn) 生（ 3） 區(qū) 分 序 列-能 夠 根 據(jù) 不 同 的 響 應 序

26、 列 來 區(qū) 分 被 測 電 路 的 初 態(tài) 和末 態(tài) 的 輸 入 序 列 電 子 測 量 原 理 第 52頁 測 試 序 列 的 產(chǎn) 生區(qū) 分 序 列 的 求 法（ A B C D） （ AAC） ， （ D）（ 000） ， （ 1）（ BB） ， （ D） ， （ B） （ 00） ， （ 1） ， （ 1）*1（ AAC） ， （ D）（ 000） ， （ 1）0 （ BC） ， （ DB）（ 00） ， （ 11）(AC),(D),(A) (00),(1),(0) (C),(D),B),(C)(0),(1),(1),(0)(AC),(D),(A)(00),(1),(0) (B),(D

27、),B),(B) (0),(1),(1),(0) 0 1 10 0 1. .區(qū) 分 序 列 ： 11， 101 電 子 測 量 原 理 第 53頁 隨 機 測 試 技 術窮 舉 測 試 技 術 電 子 測 量 原 理 第 54頁 隨 機 測 試 技 術（ 1） 原 理 概 述 電 子 測 量 原 理 第 55頁 隨 機 測 試 技 術（ 1） 原 理 概 述 電 子 測 量 原 理 第 56頁 隨 機 測 試 技 術（ 2） 偽 隨 機 序 列 發(fā) 生 器 線 性 反 饋 移 位 寄 存 器 （ LFSR） D1 h 1 h2+ + . h n-2+ D2 Dn-1 Dnhn-1 + x0 x

28、1 x2 xn-2 xn-1 xn 輸 出 位 流hi=1， 表 示 接 通 反 饋 線 ； hi=0， 表 示 斷 開 反 饋 線 電 子 測 量 原 理 第 57頁 隨 機 測 試 技 術 線 性 反 饋 移 位 寄 存 器 （ LFSR）反 饋 系 數(shù) hi在 二 元 域 上 定 義 的 多 項 式 h(x)= xn+h1xn 1+hn-1x+1 稱 為 該 線 性 反 饋 移 位 寄 存 器 的 特 征 多 項 式 既 約 多 項 式 本 原 多 項 式 f(x)-為 一 既 約 多 項 式 ， 且 能 整 除 多 項 式 2 1 1nx 而 不 能 整 除 任 何 冪 次 低 于 2

29、n 1的 任 何 多 項 式 以 n次 本 原 多 項 式 為 特 征 多 項 式 的 LFSR可 產(chǎn) 生 周 期為 2n 1的 偽 隨 機 序 列 -m序 列 電 子 測 量 原 理 第 58頁 隨 機 測 試 技 術 細 胞 自 動 機 （ Celluar Automata,簡 稱 CA） Function f Memory xi(t)xi(t) xi(t+1) x i+1(t)xi-1(t) CA細 胞 結 構 電 子 測 量 原 理 第 59頁 隨 機 測 試 技 術 細 胞 自 動 機 Cell0 Cell1 Celln. 0 0 零 邊 界 條 件 一 維 CA 電 子 測 量 原

30、 理 第 60頁 隨 機 測 試 技 術 細 胞 自 動 機 1 1( 1) ( ( ), ( ), ( )i i i if t f x t x t x t 電 子 測 量 原 理 第 61頁 隨 機 測 試 技 術 細 胞 自 動 機規(guī) 則 的 命 名 （ 以 規(guī) 則 90和 150為 例 ） 7 6規(guī) 則 90 1111 10 0101 4110 100 0110 1 1 16128 64 32 1 8 5 3規(guī) 則 150 0 0 0010 1001 0001 0 24 1 1 2 01 0規(guī) 則 90和 規(guī) 則 150的 狀 態(tài) 轉 換 1 1 1( 1) ( ) ( )( 1) (

31、) ( ) ( )i i ii i i ix t x t x tx t x t x t x t 規(guī) 則 90規(guī) 則 150 電 子 測 量 原 理 第 62頁 隨 機 測 試 技 術 細 胞 自 動 機 DQ DQ DQ DQ DQ0 0 電 子 測 量 原 理 第 63頁窮 舉 測 試 技 術 電 子 測 量 原 理 第 64頁 窮 舉 測 試 技 術 窮 舉 測 試 技 術 電 子 測 量 原 理 第 65頁 窮 舉 測 試 技 術 偽 窮 舉 測 試 技 術 電 子 測 量 原 理 第 66頁 窮 舉 測 試 技 術偽 窮 舉 測 試 的 舉 例x 1x2x 3x4 abG 1G 2 G

32、 3 y x3x4 G2 b x1x2 abG1 G3 y 偽 輸 入 電 子 測 量 原 理 第 67頁 系 統(tǒng) 組 成數(shù) 字 信 號 激 勵 源 電 子 測 量 原 理 第 68頁數(shù) 字 信 號 源 被 測 數(shù) 字 系 統(tǒng) 邏 輯 分 析特 征 分 析時 序 參 數(shù) 測 試 電 子 測 量 原 理 第 69頁 （ 1） 數(shù) 字 信 號 源 電 子 測 量 原 理 第 70頁 （ 2） 特 征 分 析 電 子 測 量 原 理 第 71頁 （ 2） 特 征 分 析 D1 h1 h2 + + . hn-1 + D2 Dn-1 Dn Qhn + M + x0 x1 x2 xn-2 xn-1 xn輸

33、 入 輸 出若 hi=0 表 示 連 線 斷 開 ， 若 hi=1， 表 示 連 線 接 通 電 子 測 量 原 理 第 72頁 （ 2） 特 征 分 析特 征 分 析 技 術 具 有 很 高 的 檢 錯 率 當 測 試 序 列 足 夠 長 時 ， 特 征 分 析 的 故 障 偵 出 率 不 低 于 m211 ， m為 用 作 特 征 分 析 的 LFSR的 長 度 。 當 m=16 時 ， 故 障 偵 出 率 高 達 99.998% D Qh1 h2 hn-1 . D QhnD Q被 測 電 路 主 輸 出 電 子 測 量 原 理 第 73頁 （ 2） 特 征 分 析 測 試 激 勵 被 測

34、 電 路輸 入 特 征 特 征 -故 障 字 典 響 應 比 較 被 測 電 路 的 無 故 障 特 征 或 某 種 故 障 下 的 特 征 可 通 過電 路 的 邏 輯 模 擬 或 故 障 模 擬 獲 得 。 通 過 事 前 的 模 擬 建立 好 特 征 -故 障 字 典 ， 便 可 用 于 故 障 診 斷 。 電 子 測 量 原 理 第 74頁 （ 3） 邏 輯 分 析 電 子 測 量 原 理 第 75頁 系 統(tǒng) 組 成數(shù) 字 信 號 源 電 子 測 量 原 理 第 76頁 數(shù) 字 信 號 源（ 1） 數(shù) 字 信 號 源 的 結 構 存 儲 器 多 路器 格 式化 器 多 路器 格 式化

35、器 輸 出放 大 器 通 道 0 通 道 K存 儲 器 n n 1 1 m m 分 離 電 路分 配 器 序 列寄 存器 分 頻 器 外 部 時 鐘起 /停 內(nèi) 部 時 鐘 和起 /停 產(chǎn) 生 地址計數(shù)器 . . . 輸 出放 大 器 . . 電 子 測 量 原 理 第 77頁 數(shù) 字 信 號 源（ 2） 數(shù) 據(jù) 的 產(chǎn) 生 電 子 測 量 原 理 第 78頁 邏 輯 分 析 儀 的 特 點 與 分 類邏 輯 分 析 儀 的 基 本 組 成 原 理邏 輯 分 析 儀 的 觸 發(fā) 方 式邏 輯 分 析 儀 的 顯 示 方 式 邏 輯 分 析 儀 的 主 要 技 術 指 標 與 發(fā) 展 趨 勢邏

36、輯 分 析 儀 的 應 用 電 子 測 量 原 理 第 79頁 邏 輯 分 析 儀 的 特 點 與 分 類 輸 入 通 道 多 數(shù) 據(jù) 捕 獲 能 力 強 ,具 有 多 種 靈 活 的 觸 發(fā) 方 式 具 有 較 大 的 存 儲 深 度 ,可 以 觀 察 單 次 或 非 周 期 信 號 顯 示 方 式 豐 富 能 夠 檢 測 毛 刺 電 子 測 量 原 理 第 80頁 電 子 測 量 原 理 第 81頁TLA 612 電 子 測 量 原 理 第 82頁 電 子 測 量 原 理 第 83頁 電 子 測 量 原 理 第 84頁Agilent E9340A 電 子 測 量 原 理 第 85頁 邏 輯

37、 分 析 儀 的 組 成 原 理信 號輸 入信 號外 時 鐘 采 樣 數(shù) 據(jù)存 儲時 鐘選 擇內(nèi) 時 鐘 觸 發(fā)產(chǎn) 生 顯 示控 制 CRT 數(shù) 據(jù) 捕 獲 數(shù) 據(jù) 顯 示邏 輯 分 析 儀 原 理 結 構門 限 電 平 設 定 電 子 測 量 原 理 第 86頁 邏 輯 分 析 儀 的 觸 發(fā) 方 式 通 道 1通 道 8100 .1 100.1 000.1 000.0 采 樣 時 鐘000.0 000.0 100.0 100.1 100.0 100.0 采 樣 數(shù) 據(jù)數(shù) 據(jù) 流 電 子 測 量 原 理 第 87頁 觸 發(fā) 字 數(shù)據(jù)流 數(shù) 據(jù) 窗 口跟 蹤 開 始觀 察 窗 口 寬 度 ：邏

38、 輯 分 析 儀 存 儲 深 度 電 子 測 量 原 理 第 88頁 電 子 測 量 原 理 第 89頁 觸 發(fā) 字 數(shù)據(jù)流 數(shù) 據(jù) 窗 口跟 蹤 開 始 觸 發(fā) 起 始 跟 蹤觸 發(fā) 字 數(shù)據(jù)流 數(shù) 據(jù) 窗 口跟 蹤 結 束 觸 發(fā) 終 止 跟 蹤 電 子 測 量 原 理 第 90頁觸 發(fā) 字 數(shù)據(jù)流 數(shù) 據(jù) 窗 口跟 蹤 開 始 延 遲 數(shù) 跟 蹤 結 束 數(shù)據(jù)流 數(shù) 據(jù) 窗 口 觸 發(fā) 字延 遲 數(shù)(a) 觸 發(fā) 開 始 跟 蹤 加 延 遲 (b) 觸 發(fā) 終 止 跟 蹤 加 延 遲 電 子 測 量 原 理 第 91頁導 引 條 件使 能第 二 級 觸 發(fā) 第 二 級 觸 發(fā)字 無 效第

39、 二 級 觸 發(fā)字 有 效 第 一 級 觸 發(fā) B(導 引 條 件 )子 程 序C(觸 發(fā) 條 件 )主 程 序兩 級 序 列 觸 發(fā) 工 作 原 理 電 子 測 量 原 理 第 92頁 與 門限 定 條 件觸 發(fā)識 別數(shù) 據(jù) 流 觸 發(fā) 信 號限 定 條 件 觸 發(fā) 產(chǎn) 生 原 理 電 子 測 量 原 理 第 93頁 邏 輯 分 析 儀 的 顯 示 方 式 電 子 測 量 原 理 第 94頁 電 子 測 量 原 理 第 95頁地 址 （ HEX） 數(shù) 據(jù) （ HEX） 操 作 碼 操 作 數(shù)2000200320052006. 21422006049723. LDLDSUBINC. HL， 2

40、042B， 04AHL. 電 子 測 量 原 理 第 96頁（ A） BCD數(shù) 據(jù) 序 列 的 圖 解 顯 示0510 （ B） 程 序 執(zhí) 行 的 圖 解 顯 示2000H20FFH 主 程 序 子 程 序 循 環(huán) 程 序圖 解 顯 示 電 子 測 量 原 理 第 97頁 邏 輯 分 析 儀 的 技 術 指 標及 發(fā) 展 趨 勢 定 時 分 析 最 大 速 率 。 狀 態(tài) 分 析 最 大 速 率 。 通 道 數(shù) 。 存 儲 深 度 。 觸 發(fā) 方 式 。 輸 入 信 號 最 小 幅 度 。 輸 入 門 限 變 化 范 圍 。 毛 刺 捕 捉 能 力 。 電 子 測 量 原 理 第 98頁 電

41、 子 測 量 原 理 第 99頁 邏 輯 分 析 儀 的 應 用激 勵 信 號 被 測 電 路邏 輯 分 析 儀例 ： ROM的 指 標 測 試 數(shù) 據(jù) 發(fā) 生 器 RO M 邏 輯 分 析 儀 頻 率 計 地 址 數(shù) 據(jù) 外 時 鐘RO M 指 標 參 數(shù) 測 試 電 子 測 量 原 理 第 100頁 例 ： 毛 刺 信 號 的 測 試分 頻電 路 74LS138ABCG /G2A/G2B 邏 輯分 析 儀（ a） 譯 碼 電 路 的 測 試 （ b） 譯 碼 電 路 輸 出 定 時 圖邏 輯 定 時 分 析 儀 測 試 譯 碼 電 路 及 其 毛 刺/Y0/Y1/Y2/Y3/Y4/Y5/Y

42、6/Y7 電 子 測 量 原 理 第 101頁例 ： 分 支 程 序 的 跟 蹤03CF 042D03F2通 路 A 通 路 B分 支 程 序 的 跟 蹤 測 試 通 路 B觸 發(fā) 條 件 （ 03F2）通 路 A 導 引 條 件 （ 042D） 電 子 測 量 原 理 第 102頁 電 子 測 量 原 理 第 103頁 11.3.1 概 述 電 子 測 量 原 理 第 104頁 11.3.1 概 述 電 子 測 量 原 理 第 105頁 電 子 測 量 原 理 第 106頁 Y1Y2Yn-1Yn狀 態(tài) 存 儲 器 件系 統(tǒng) 時 鐘 PONPI y . 電 子 測 量 原 理 第 107頁Y1

43、Y2Yn-1Yn 掃 描輸 出.NPI PO y 掃 描 選 擇掃 描 輸 入系 統(tǒng) 時 鐘 電 子 測 量 原 理 第 108頁 電 子 測 量 原 理 第 109頁 電 子 測 量 原 理 第 110頁 DCLK SD A B 鎖 存 器L1 鎖 存 器L2 系 統(tǒng) 輸 出 掃 描 輸 出L2 L1系 統(tǒng) 數(shù) 據(jù)系 統(tǒng) 時 鐘 掃 描 數(shù) 據(jù)掃 描 時 鐘 掃 描 時 鐘 L1： 功 能 操 作 的 狀 態(tài) 存 儲 器 件 電 子 測 量 原 理 第 111頁 DCLK=1 SDA=0 B=0 鎖 存 器L1 鎖 存 器 L2 系 統(tǒng) 輸 出 掃 描 輸 出L2 L1系 統(tǒng) 數(shù) 據(jù)系 統(tǒng)

44、時 鐘 掃 描 數(shù) 據(jù)掃 描 時 鐘 掃 描 時 鐘系 統(tǒng) 功 能 操 作 時 ， 掃 描 時 鐘 A和 B置 于 低 電 平 。 系 統(tǒng) 時鐘 CLK=1時 ， 數(shù) 據(jù) D進 入 鎖 存 器 L1。 當 CLK=0時 ， L1鎖存 該 數(shù) 據(jù) 電 子 測 量 原 理 第 112頁 DCLK=0 SDA=1 B 鎖 存 器L1 鎖 存 器 L2 系 統(tǒng) 輸 出 掃 描 輸 出L2 L1系 統(tǒng) 數(shù) 據(jù)系 統(tǒng) 時 鐘 掃 描 數(shù) 據(jù)掃 描 時 鐘 掃 描 時 鐘掃 描 方 式 ： 電 子 測 量 原 理 第 113頁 電 子 測 量 原 理 第 114頁 自 測 試 電 子 測 量 原 理 第 1

45、15頁 電 子 測 量 原 理 第 116頁測 試 激 勵 生 成 器 掃 描 通 路 （ 鏈 ）被 測 電 路 特 征 分 析 寄 存 器位 計 數(shù) 器樣 式 計 數(shù) 器BIST控 制 單 元 電 子 測 量 原 理 第 117頁. SI1 SI2 SIn SO 1 SO 2 SO n多 輸 入 特 征 寄 存 器 （ MISR） 并 行 偽 隨 機 序 列 發(fā) 生 器 （ LFSR， CA） 電 子 測 量 原 理 第 118頁 電 子 測 量 原 理 第 119頁測 試 激 勵 生 成 器被 測 電 路多 輸 入 特 征 寄 存 器. . . . . 電 子 測 量 原 理 第 120頁

46、 電 子 測 量 原 理 第 121頁 一 種 多 功 能 通 用 電 路 。既 可 作 一 般 的 寄 存 器 ， 又 可 作 為 線 性 反 饋 移 位 寄 存 器 和多 輸 入 特 征 分 析 器 ， 并 具 有 掃 描 通 路 ， 從 而 實 現(xiàn) 內(nèi) 測 試 CLK MUXSDI C1 C2 Z1 Z2 Z3 Z4 Q1 Q2 Q3 Q4 SO 電 子 測 量 原 理 第 122頁 （ 1） 復 位 方 式 （ C1=0， C2=1） CLK 0 Q1 Q2 Q3 Q4 0 0 0 D觸 發(fā) 器 的 輸 入 都 為 “ 0” ， 與 Zi和 Qi的 狀 態(tài) 無 關 ，復 位 方 式 將

47、 使 該 模 塊 的 所 有 觸 發(fā) 器 復 位 電 子 測 量 原 理 第 123頁 （ 2） 正 常 工 作 方 式 （ C1=C2=1） CLK Q1 Q2 Q3 Q4 Z1 Z2 Z3 Z4 電 子 測 量 原 理 第 124頁 （ 3） 掃 描 測 試 方 式 （ C1=C2=0） CLK SDI SD0 電 子 測 量 原 理 第 125頁 （ 4） LFSR工 作 方 式 （ C1=1， C2=0） CLK Z1 Z2 Z3 Z4 電 子 測 量 原 理 第 126頁BILBO-1 電 路 1 BILBO-2 電 路 2 Sout Sout Sin Sin 當 測 試 被 測 電

48、 路 1時 ， BILBO-1作 為 偽 隨 機 數(shù) 發(fā) 生 器 ，為 電 路 1提 供 測 試 激 勵 ， 響 應 輸 出 送 到 作 為 特 征 分 析 器的 BILBO-2。 測 試 完 畢 后 ， 將 BILBO-2置 為 串 行 掃 描 方 式 ，將 其 中 存 放 的 特 征 串 行 地 從 掃 描 輸 出 端 送 出 ， 并 與 正 確特 征 比 較 電 子 測 量 原 理 第 127頁BILBO-1 電 路 1 BILBO-2 電 路 2 Sout Sout Sin Sin 用 BILBO-2作 偽 隨 機 數(shù) 發(fā) 生 器 ， BILBO-1作 特 征 分析 器 ， 可 測 試

49、 電 路 2。 系 統(tǒng) 正 常 工 作 時 ， BILBO用 作 觸 發(fā)器 或 移 位 寄 存 器 ， 與 電 路 1和 電 路 2共 同 完 成 系 統(tǒng) 的 功 能操 作 電 子 測 量 原 理 第 128頁 電 子 測 量 原 理 第 129頁 電 子 測 量 原 理 第 130頁 核心邏輯 核心邏輯 核心邏輯邊 界 掃描 單 元 IC1 IC2 IC3 測 試 數(shù) 據(jù)輸 出 TDO 測 試 數(shù) 據(jù) 輸 入 TDI 電 子 測 量 原 理 第 131頁 電 子 測 量 原 理 第 132頁硬 件 電 子 測 量 原 理 第 133頁指 令 內(nèi) 測 試 （ INTEST） 運 行 BIST指

50、 令 取 器 件 標 志 指 令 用 戶 代 碼 指 令 組 件 指 令 輸 出 高 阻 指 令 電 子 測 量 原 理 第 134頁TAP TAP控制器 特 別 設 計 的測 試 數(shù) 據(jù) 寄 存器器 件 標 志 寄 存 器 邊 緣 掃 描 寄 存 器旁 路 寄 存 器 多 路 器G 1測 試 數(shù) 據(jù) 寄 存 器 指 令 譯 碼 指 令 寄 存 器 IR G 2多 路 器01 1DC1 EN 特 定 的 設 計 數(shù) 據(jù) 使 能TCK* 時 鐘 數(shù) 據(jù) 寄 存移 位 數(shù) 據(jù) 寄 存更 新 數(shù) 據(jù) 寄 存時 鐘 數(shù) 據(jù) 寄 存移 位 數(shù) 據(jù) 寄 存 更 新 數(shù) 據(jù) 寄 存 復 位 選 擇 TDOT

51、DI測 試 數(shù) 據(jù) 輸 出測 試 數(shù) 據(jù) 輸 入 測 試 方 式 選 擇 （ TMS）測 試 時 鐘 （ TCK） 測 試 復 位 （ TRST*） 電 子 測 量 原 理 第 135頁 測 試 時 鐘 輸 入 TCK- 測 試 模 式 選 擇 輸 入 TMS- 測 試 數(shù) 據(jù) 輸 入 TDI- 電 子 測 量 原 理 第 136頁 測 試 數(shù) 據(jù) 輸 出 TDO-是 測 試 指 令 和 測 試 數(shù) 據(jù) 的 串行 輸 出 端 。 TAP控 制 器 的 狀 態(tài) 決 定 了 是 將 指 令 寄 存 器還 是 數(shù) 據(jù) 寄 存 器 里 的 數(shù) 據(jù) 串 行 地 移 出 到 TDO端 。 TDO數(shù) 據(jù) 狀

52、 態(tài) 的 改 變 必 須 且 只 能 發(fā) 生 在 TCK信 號 的 下 降 沿 標 準 還 提 供 了 一 個 可 選 用 的 “ 測 試 復 位 輸 入TRST*” ， 它 為 TAP控 制 器 提 供 了 異 步 初 始 化 功 能 ，使 測 試 系 統(tǒng) 強 制 復 位 電 子 測 量 原 理 第 137頁 選 擇 數(shù) 據(jù) 寄 存 掃 描捕 獲 數(shù) 據(jù) 寄 存 移 位 數(shù) 據(jù) 寄 存退 出 1（ 數(shù) 據(jù) 寄 存 ） 暫 停 數(shù) 據(jù) 寄 存 更 新 數(shù) 據(jù) 寄 存退 出 2（ 數(shù) 據(jù) 寄 存 ） 選 擇 數(shù) 據(jù) 寄 存 掃 描捕 獲 指 令 寄 存 移 位 指 令 寄 存退 出 1（ 指 令

53、 寄 存 ） 暫 停 指 令 寄 存 更 新 指 令 寄 存退 出 2（ 指 令 寄 存 ） 0 0 0 0000 000 運 行 測 試 空 閑測 試 邏 輯 復 位01 1 1 1 1 11 1 1 1 1 1 0 0 0 0 1 0 1 1 TAP控制器狀態(tài)轉換圖 電 子 測 量 原 理 第 138頁 測 試 邏 輯 復 位 （ Test Logic Reset） G 1多 路 器 101 G 1多 路 器 2011D 1DC1 C1 TDI （ TCK） 更 新 （ Update） 移 位 /裝 載 TDO 測 試 /常 規(guī) 系 統(tǒng) 數(shù) 據(jù) Mode Mode 系 統(tǒng) 數(shù) 據(jù) 電 子

54、測 量 原 理 第 139頁 運 行 測 試 /空 閑 (Run Test/Idle) 捕 獲 數(shù) 據(jù) 寄 存 (Capture-DR) G 1多 路 器 101 G 1多 路 器 2011D 1DC1 C1 TDI （ TCK） 更 新 （ Update） 移 位 /裝 載 TDO 測 試 /常 規(guī) 系 統(tǒng)數(shù) 據(jù)Mode Mode系 統(tǒng) 數(shù) 據(jù) 電 子 測 量 原 理 第 140頁 移 位 數(shù) 據(jù) 寄 存 (Shift-DR) G 1多 路 器 101 G 1多 路 器 2011D 1DC1 C1 TDI （ TCK） 更 新 （ Update） 移 位 /裝 載 TDO 測 試 /常 規(guī)

55、系 統(tǒng)數(shù) 據(jù)Mode Mode系 統(tǒng) 數(shù) 據(jù) 電 子 測 量 原 理 第 141頁 更 新 數(shù) 據(jù) 寄 存 (Update-DR) G 1多 路 器 101 G 1多 路 器 2011D 1DC1 C1 TDI （ TCK） 更 新 （ Update） 移 位 /裝 載 TDO 測 試 /常 規(guī) 系 統(tǒng)數(shù) 據(jù)Mode Mode系 統(tǒng) 數(shù) 據(jù) 電 子 測 量 原 理 第 142頁 捕 獲 指 令 寄 存 (Capture-IR) G 1多 路 器 101 1DC1 & C11DR 移 位 指 令 寄 存數(shù) 據(jù)來 自 上 一 單 元 時 鐘 指 令 寄 存更 新 指 令 寄 存測 試 復 位 （

56、TRST*） 復 位 （ Reset*） 去 下 一 單 元指 令 位（ bit） 電 子 測 量 原 理 第 143頁 移 位 指 令 寄 存 （ Shift-IR） G 1多 路 器 101 1DC1 & C11DR 移 位 指 令 寄 存數(shù) 據(jù)來 自 上 一 單 元 時 鐘 指 令 寄 存更 新 指 令 寄 存測 試 復 位 （ TRST*） 復 位 （ Reset*） 去 下 一 單 元指 令 位（ bit） 電 子 測 量 原 理 第 144頁 更 新 指 令 寄 存 (Update-IR) G 1多 路 器 101 1DC1 & C11DR 移 位 指 令 寄 存數(shù) 據(jù)來 自 上

57、一 單 元 時 鐘 指 令 寄 存更 新 指 令 寄 存測 試 復 位 （ TRST*） 復 位 （ Reset*） 去 下 一 單 元指 令 位（ bit） 電 子 測 量 原 理 第 145頁輸 出 鎖 存 器移 位 寄 存 存 器更 新 指 令 寄 存 測 試 復 位 指 令 0 1 TDOLSB 專 門 設 計 的 數(shù) 據(jù)捕 獲 指 令 寄 存 移 位 指 令 寄 存時 鐘TDI 電 子 測 量 原 理 第 146頁測 試 數(shù) 組 寄 存 器 組 旁 路 寄 存 器 Bypass Register（ 必 備 ）邊 界 掃 描 寄 存 器 （ Boundary Scan Register

58、）（ 必 備 ） 器 件 標 志 寄 存 器 (Device ID)（ 非 必 備 ） 專 門 設 計 的 測 試 數(shù) 據(jù) 寄 存 器 （ 非 必 備 ） 電 子 測 量 原 理 第 147頁 旁 路 寄 存 器 -將 當 前 沒 有 測 試 的 IC的 掃 描 鏈 段 短 路 起 來 ， 為 在TDI和 TDO間 的 測 試 數(shù) 據(jù) 的 移 動 提 供 了 最 短 長 度 的 串 行通 路 & 1DC1 至 TDO來 自 TDIShift DRClock DR 電 子 測 量 原 理 第 148頁 邊 界 掃 描 寄 存 器 完 成 測 試 數(shù) 據(jù) 的 輸 入 、 輸 出 鎖 存 和 移 位

59、 等 測 試 必 需 的 操作 。 由 一 系 列 邊 界 掃 描 單 元 組 成 G 1多 路 器 101 G 1多 路 器 2011D 1DC1 C1 TDI （ TCK） （ Update） 移 位 /裝 載 TDO 測 試 /常 規(guī) 系 統(tǒng) 數(shù) 據(jù) Mode Mode 系 統(tǒng)數(shù) 據(jù) 移 位寄 存 器 輸 出鎖 存 器 電 子 測 量 原 理 第 149頁 器 件 標 志 寄 存 器 31 28 器 件 型 號27 12 制 造 廠 商11 101版 本 號 專 門 設 計 的 數(shù) 據(jù) 寄 存 器 電 子 測 量 原 理 第 150頁 旁 路 指 令 電 子 測 量 原 理 第 151頁

60、 取 樣 /預 裝 載 指 令 （ SAMPLE/PRELOAD） G1 TDI 01 G1011DC1 1DC1 ModeUpdateDR ClockDRShiftDR G1 TDI 01 G1011DC1 1DC1 ModeUpdateDR ClockDRShiftDR 核 心邏 輯 IC引 腳TDO TDOIC引 腳 電 子 測 量 原 理 第 152頁 取 樣 /預 裝 載 指 令 （ SAMPLE/PRELOAD） G1 TDI 01 G1011DC1 1DC1 ModeUpdateDR ClockDRShiftDR G1 TDI 01 G1011DC1 1DC1 ModeUpdat

61、eDR ClockDRShiftDR 核 心邏 輯 IC引 腳TDO TDOIC引 腳 電 子 測 量 原 理 第 153頁 外 測 試 指 令 EXTEST G1 TDI 01 G1011DC1 1DC1 ModeUpdateDR ClockDRShiftDR G1 TDI 01 G1011DC1 1DC1 ModeUpdateDR ClockDRShiftDR TDO TDO核心邏輯 核心邏輯PCB IC引 腳 連 線 電 子 測 量 原 理 第 154頁 內(nèi) 測 試 指 令 INTEST G1 TDI 01 G1011DC1 1DC1 ModeUpdateDR ClockDRShiftD

62、R G1 TDI 01 G1011DC1 1DC1 ModeUpdateDR ClockDRShiftDR 核 心邏 輯 IC引 腳TDO TDOIC引 腳 電 子 測 量 原 理 第 155頁 (5)指 令 運 行 自 測 試 指 令 取 器 件 標 志 指 令 IDCODE 用 戶 代 碼 指 令 USERCODE 組 件 指 令 CLAMP 輸 出 高 阻 指 令 HIGHZ（ 6） 邊 界 掃 描 描 述 語 言 （ BSDL） BSDL原 是 超 高 速 集 成 電 路 （ VHSC） 硬 件 描 述 語 言（ VHDL） 中 的 一 個 子 集 ， 用 它 描 述 的 器 件 可

63、測 性 與IEEE1149.1標 準 兼 容 電 子 測 量 原 理 第 156頁 電 子 測 量 原 理 第 157頁 測 試 圖 形發(fā) 生 器 計 數(shù) 器測 試 圖 形 發(fā) 生 器 誤 碼檢 測被 測 系 統(tǒng)時 鐘 編 碼 解 碼 誤 碼 儀 發(fā) 送 部 分 誤 碼 儀 接 收 部 分同 步時 鐘 記 錄分 析顯 示 誤 碼 儀 由 發(fā) 送 和 接 收 兩 部 分 組 成 ， 發(fā) 送 部 分 的 測 試 圖 形 發(fā)生 器 產(chǎn) 生 一 個 已 知 的 測 試 數(shù) 字 序 列 ， 編 碼 后 送 入 被 測 系 統(tǒng) 的輸 入 端 ， 經(jīng) 過 被 測 系 統(tǒng) 傳 輸 后 輸 出 ， 進 入 接

64、收 部 分 解 碼 ； 接收 部 分 的 測 試 圖 形 發(fā) 生 器 產(chǎn) 生 相 同 的 并 且 同 步 的 數(shù) 字 序 列 ，與 接 收 到 的 信 號 進 行 比 較 ， 如 果 不 一 致 ， 便 是 誤 碼 ； 用 計 數(shù)器 對 誤 碼 進 行 計 數(shù) ， 然 后 記 錄 存 儲 ， 分 析 后 顯 示 測 試 結 果 。 電 子 測 量 原 理 第 158頁 9 5 1x x a1 a2 a3 a4 a5 a9a8a7a6 輸 出 電 子 測 量 原 理 第 159頁 二 進 制 誤 碼 輸 出異或參 考 圖 形被 測 信 號 錯 誤 位 電 子 測 量 原 理 第 160頁 電 子 測 量 原 理 第 161頁DMA控 制 器 ROM(BIST)I/O控 制 器存 儲控 制 器 CPU核(4級 流 水 線 BILBO)數(shù) 據(jù) RAM(BIST)指 令 RAM(BIST) TAP內(nèi) 部 總 線(部 分 掃 描 ) I/O PAD (邊 界 掃 描 ) TDO TMSTCKTDI 電 子 測 量 原 理 第 162頁