光學(xué)車(chē)間檢測(cè)原書(shū)第3版國(guó)際機(jī)械工程先進(jìn)技術(shù)譯叢

上傳人:i**** 文檔編號(hào):25951231 上傳時(shí)間:2021-08-04 格式:DOC 頁(yè)數(shù):6 大?。?63.50KB
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《光學(xué)車(chē)間檢測(cè)原書(shū)第3版國(guó)際機(jī)械工程先進(jìn)技術(shù)譯叢》由會(huì)員分享,可在線(xiàn)閱讀,更多相關(guān)《光學(xué)車(chē)間檢測(cè)原書(shū)第3版國(guó)際機(jī)械工程先進(jìn)技術(shù)譯叢(6頁(yè)珍藏版)》請(qǐng)?jiān)谘b配圖網(wǎng)上搜索。

1、 光學(xué)車(chē)間檢測(cè)(原書(shū)第 3 版)(國(guó)際機(jī)械工程先進(jìn)技術(shù)譯叢) 作 者:(墨) 馬拉卡拉 主編,楊力 等譯 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社 出版時(shí)間: 2012-6-1 版 次: 1 頁(yè) 數(shù): 630 字 數(shù): 1026000 印刷時(shí)間: 2012-6-1 開(kāi) 本: 16 開(kāi)紙 張:膠版紙 印 次: 1I S B N : 9787111373766 包 裝:平裝 內(nèi)容推薦 《光學(xué)車(chē)間檢測(cè) ( 原書(shū)第 3 版 )/ 國(guó)際機(jī)械工程先進(jìn)技術(shù)譯叢》編著者馬拉卡拉。 本書(shū)原著是光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域的權(quán)威著作之一,從第 1 版到第 3 版的再版歷時(shí)

2、三十年時(shí)間,第一版都深受光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域讀者的歡迎。本書(shū)(原書(shū)第 3 版)詳細(xì)介紹了光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域的各種儀器、方法和技術(shù)手段, 以及三十年來(lái)光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域的最新重要進(jìn)展。 本書(shū)共分 18 章,主要內(nèi)容包括:牛頓干涉儀,菲佐干涉儀,海丁格干涉儀,泰曼一格林干涉儀,共光路干涉儀,橫向剪切干涉儀,徑向、旋轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)剪切干涉儀,多光束干涉儀和多通道干涉儀的技術(shù)原理和使用方法;介紹了傅科刀口法、細(xì)絲法和調(diào)相法,朗奇檢驗(yàn)法,哈特曼光闌檢驗(yàn)、哈特曼一夏克光闌檢驗(yàn)及其他光闌檢驗(yàn),星點(diǎn)檢驗(yàn)法,非球面波前和鏡面的檢驗(yàn),澤尼克多項(xiàng)式與波前擬合,相移干涉測(cè)量,表面輪廓儀,多波長(zhǎng)及白光干涉測(cè)量,散射表面光學(xué)檢測(cè),角度

3、、棱鏡、曲率半徑和焦距的測(cè)量,光學(xué)面及其特性的數(shù)學(xué)描述等光學(xué)檢測(cè)的主要技術(shù)手段和分析方法。 本書(shū)可供從事光學(xué)檢驗(yàn)、檢測(cè)、測(cè)試、計(jì)量與研究、設(shè)計(jì)與制造工作的廣大科技人員參考,也可作為教材供相關(guān)專(zhuān)業(yè)學(xué)生及教師使用。 目錄 叢序言 第 3 版譯者的話(huà)第3版序 第 1 章牛頓干涉儀、菲佐干涉儀和海丁格干涉儀 1.1 引言 1.2 牛頓干涉儀 1.3 菲佐干涉儀 1.4 海丁格干涉儀 第 2 章泰曼格林干涉儀 2.1 引言 2.2 分光鏡 2.3 相干性要求 2.4 泰曼格林干涉儀的應(yīng)用 2.5 干涉儀內(nèi)部

4、畸變的補(bǔ)償 2.6 非等程干涉儀 2.7 開(kāi)放光路干涉儀 2.8 泰曼格林光路結(jié)構(gòu)的變形 2.9 泰曼格林干涉圖及其分析 第 3 章共光路干涉儀 3.1 引言 3.2 使用兩塊匹配散射板的伯奇干涉儀 3.3 雙折射分光鏡 3.4 橫向剪切干涉儀 3.5 雙焦干涉儀 3.6 桑德斯棱鏡干涉儀 3.7 點(diǎn)衍射干涉儀 3.8 采用共光路干涉儀的澤尼克檢測(cè) 第 4 章橫向剪切干涉儀 4.1 引言 4.2 光源的相干性 4.3 橫向剪切干涉計(jì)量的理論簡(jiǎn)介 4.4 未知波前的

5、估計(jì) 4.5 平行光橫向剪切干涉儀(白光補(bǔ)償) 4.6 會(huì)聚光橫向剪切干涉儀(白光補(bǔ)償) 4.7 使用激光的橫向剪切干涉儀 4.8 其他類(lèi)型的橫向剪切干涉儀 4.9 矢量剪切干涉儀 第 5 章徑向、旋轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)剪切干涉儀 5.1 引言 5.2 徑向剪切干涉儀 5.3 旋轉(zhuǎn)剪切干涉儀 5.4 反轉(zhuǎn)剪切干涉儀 第 6 章多光束干涉儀 6.1 發(fā)展簡(jiǎn)史 6.2 多光束干涉計(jì)量技術(shù)的精度 6.3 多光束菲佐干涉儀 6.4 等色序條紋 6.5 多光束干涉測(cè)量中如何減少干涉條紋的間隔 6.6 平行平

6、面法布里珀羅干涉儀 6.7 用法布里 ?珀羅干涉儀產(chǎn)生的托蘭斯基干涉條紋 6.8 檢驗(yàn)曲面用的多光束干涉儀 6.9 耦合干涉儀和串聯(lián)干涉儀 6.10 全息多光束干涉儀 6.11 法布里 ?珀羅干涉條紋近代的發(fā)展和應(yīng)用 6.12 結(jié)束語(yǔ) 第 7 章多通道干涉儀 7.1 雙通道干涉儀 7.2 多通道干涉儀 第 8 章傅科刀口法、細(xì)絲法及調(diào)相法 8.1 引言 8.2 傅科檢驗(yàn)法和刀口檢驗(yàn)法 8.3 細(xì)絲檢驗(yàn)法 8.4 普拉茲克 ?蓋維俄拉檢驗(yàn)法 8.5 調(diào)相檢驗(yàn)法 8.6 朗奇 ?康芒檢驗(yàn)法

7、 8.7 結(jié)束語(yǔ) 第 9 章朗奇( Ronchi )檢驗(yàn)法 9.1 引言 9.2 幾何原理 9.3 波面形狀的測(cè)定 9.4 物理原理 9.5 朗奇檢驗(yàn)法的實(shí)際應(yīng)用 9.6 其他幾種相關(guān)的檢驗(yàn) 9.7 結(jié)束語(yǔ) 第 10 章哈特曼光闌檢驗(yàn)、哈特曼 ?夏克光闌檢驗(yàn)及其他光闌檢驗(yàn) 10.1 引言 10.2 實(shí)例 10.3 矩形光闌的哈特曼檢驗(yàn) 10.4 波面恢復(fù) 10.5 四孔光闌的哈特曼檢驗(yàn) 10.6 眼鏡的哈特曼檢驗(yàn) 10.7 采用非矩形光闌的哈特曼檢驗(yàn) 10.8 哈特曼 ?夏

8、克檢驗(yàn) 10.9 交叉圓柱鏡測(cè)試 10.10 光源陣列或者網(wǎng)格測(cè)試 10.11 邁克耳遜 ?加德納 ?貝尼特檢驗(yàn)法 10.12 其他進(jìn)展?fàn)顩r 第 11 章星點(diǎn)檢驗(yàn)法 11.1 引言 11.2 小像差星點(diǎn)檢驗(yàn) 11.3 小像差實(shí)測(cè)結(jié)果 11.4 大像差星點(diǎn)檢驗(yàn) 11.5 由測(cè)得的斜率和曲率恢復(fù)波前 11.6 根據(jù)光強(qiáng)傳遞方程由兩幅離焦像求解波前 11.7 根據(jù)傅里葉迭代變換由一幅離焦像求解波前 11.8 根據(jù)菲涅耳變換迭代由兩幅或三幅離焦像求解波前第 12 章非球面波前和鏡面的檢驗(yàn) 12.1 引言

9、 12.2 一些檢驗(yàn)非球面波前的方法 12.3 在非零位檢測(cè)中干涉圖的成像 12.4 一些零位檢測(cè)的光路 12.5 凸雙曲面的檢測(cè) 12.6 檢測(cè)圓柱面 12.7 早期的補(bǔ)償器 12.8 奧夫納補(bǔ)償器 12.9 反射式補(bǔ)償器 12.10 用于二次凹面的其他補(bǔ)償檢驗(yàn)法 12.11 使用實(shí)全息圖的干涉儀 12.12 應(yīng)用綜合全息圖的干涉儀 12.13 利用雙波長(zhǎng)全息圖檢驗(yàn)非球面 12.14 波前拼接 第 13 章澤尼克多項(xiàng)式與波前擬合 13.1 簡(jiǎn)介 13.2 具有圓形光瞳的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱(chēng)系統(tǒng)的像

10、差 13.3 含圓形光瞳而不含旋轉(zhuǎn)對(duì)稱(chēng)軸的像差函數(shù) 13.4 澤尼克環(huán)多項(xiàng)式作為環(huán)形光瞳系統(tǒng)的平衡像差 13.5 利用離散波前誤差數(shù)據(jù)計(jì)算澤尼克系數(shù) 13.6 總結(jié) 第 14 章相移干涉測(cè)量 14.1 導(dǎo)言 14.2 基本原理 14.3PSI 的優(yōu)勢(shì) 14.4 相移的方法 14.5 探測(cè)波前相位 14.6 數(shù)據(jù)采集 14.7PSI 算法 14.8 相移校準(zhǔn) 14.9 誤差源 14.10 探測(cè)器和空間采樣 14.11 品質(zhì)函數(shù) 14.12 相位解包裹 14.13 非球面及擴(kuò)展量程的 P

11、SI 技術(shù) 14.14 其他分析方法 14.15 計(jì)算機(jī)處理和輸出 14.16 實(shí)現(xiàn)和應(yīng)用 14.17PSI 技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì) 第 15 章表面輪廓儀、多波長(zhǎng)及白光干涉測(cè)量 15.1 表面輪廓儀介紹 15.2 接觸式輪廓儀 15.3 光學(xué)輪廓儀 15.4 干涉光學(xué)輪廓儀 15.5 雙波長(zhǎng)和多波長(zhǎng)技術(shù) 15.6 白光干涉光學(xué)輪廓儀 15.7 波長(zhǎng)掃描干涉儀 15.8 光譜分辨白光干涉測(cè)量 15.9 偏振干涉測(cè)量 15.10 光學(xué)測(cè)距方法 15.11 總結(jié) 第 16 章散射表面光學(xué)檢測(cè) 16.1 莫爾條紋與條紋投影技術(shù) 16.2 全息與散斑測(cè)試 第 17 章角度、棱鏡、曲率半徑和焦距的測(cè)量 17.1 引言 17.2 角度測(cè)量 17.3 棱鏡的測(cè)量 17.4 曲率半徑的測(cè)量 17.5 焦距測(cè)量 第 18 章光學(xué)面及其特性的數(shù)學(xué)描述 18.1 光學(xué)面的定義 18.2 由非球面產(chǎn)生的焦散面 18.3 球面的初始像差 18.4 像散面 18.5 離軸二次曲面

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